Sisteme pentru semiconductoare
-
Microscop Nikon NWL200
Seria NWL200 este prima gama de microscoape de inspectie capabile sa incarce pana la 100 microni. -
Microscop Nikon Eclipse L200N
Combinat cu noul sistem Nikon CFI60 LU/L si cu un sistem extraordinar de iluminare, acest microscop ofera imagini cu un contrast mai mare, rezolutie mai buna si imagini de trei ori mai stralucitoare decat inainte. Utilizat independent sau combinat cu alte accesorii, microscopul L200N efectueaza inspectii optice extrem de precise. -
Microscop Nikon Eclipse LV-DAF
LV-DAF ofera o focalizare rapida si automata cu ajutorul unui sistem hibrid auto-focus. Combinand proiectia fanta si contrastul de detectare a focalizarii automate, permite un interval de focalizare mare si o capacitate de urmarire rapida. Sunt suportate o varietate de metode de observare, inclusiv luminos, intunecat, precum si diferite probe transparente. -
Microscop Nikon Eclipse LV150N
Port-obiectivul microscopului satisface nevoile variate ale observatiei, inspectiei, cercetarii si analizei pe o gama larga de domenii industriale. -
Nikon Metrology API
Ca o a treia parte, API Nikon Metrology gestioneaza achizitia de puncte de control din noua generatie digitala de scanere laser ModelMaker si ILS portabile.
