Cel mai avansat Microscop de tip benchtop SEM NeoScope JCM-6000 PLUS

Cel mai avansat Microscop de tip benchtop SEM NeoScope JCM-6000 PLUS

TOP Metrology prezinta microscopul de scanare cu electroni JEOL Neoscope JCM-6000 PLUS , capabil sa raspunda la nevoile diversificate ale utilizatorilor.

JCM 6000 PLUS de tip benchtop este un echipament cu numeroase functii versatile , iar operarea prin panoul tactil simplifica executia si modul de lucru . Prezinta un aspect elegant si datorita dimensiunilor reduse permite instalarea in spatii mici .

   Datorita functiilor automate numeroase precum auto focus , auto stigmator si auto contrast/brightness , unitatea de control dispune de posibilitatea de a afisa doua imagini (una live si una de referinta), avand ca scop compararea rezultatelor.

   Seria de microscoape SEM uimiteste prin capabilitatile avansate de realizare al analizelor structurilor utilizand functiile de detectie prin vid inalt sau vid scazut .Acest lucru ofera posibilitatea de a observa in mod clar , structure fine de pe suprata probei la o apropiere mare.

 

 

Calitativ/Analiza cantitativa

Prin simpla apasare a doua butoane “Image” si “Spc” se pot realiza analize chimice pentru suprafetele selectate .

Posted on 2019-02-05 noutati 0 1162

Leave a CommentLeave a Reply

You must be logged in to post a comment.

Blog archives

Blog categories

Latest Comments

No comments

Blog search

Compare 0
Prev
Next