Difractometru X-Ray – GNR Europe 600

Difractometrul Europe 600 este de tip desktop, avand ca scop general analiza cantitativa si calitativa a materialelor policristaline.

More details

Online only
GNR Europe 600
New product

Add to compare

 
More info

Difractia cu raze X (XRD) este o Tehnica nedistructiva pentru analiza calitativa si cantitativa a materialelor cristaline sub forma de pulbere sau solid.

Portofoliul de produse GNR XRD acopera o gama larga de aplicatii pentru caracterizarea materialelor si controlul calitatii materialelor cristaline sau non-cristaline, cum ar fi pulberi, probe, filme subtiri sau lichide.

 

Cum functioneaza?

In principiu, XRD este obtinut ca “reflexie” a fasciculului de raze X dintr-o familie de plane atomice paralele distantate in mod egal, urmand legea lui Bragg: cand un fascicul de raze X monocromatice cu lungimea de unda L este incident pe planuri cu unghi q, difractia apare daca calea razelor reflectate de planurile successive (cu distanta d) este un multiplu al lungimii de unda.

Analiza calitativa (analiza de faza) se poate face datorita compararii difractogramei obtinute din specimen, cu un numar mare de modele incluse in bazele de date oficiale.

 

Unde poate fi folosita metoda XRD?

Fortele de stress residual - care duc la o mica comprimare sau dilatare a distantei d. Cu XRD este posibil sa se masoare tulpina (deformarea laturii originale), iar tensiunea se calculeaza datorita cunoasterii constantelor elastice ale materialului.

Textura – este orientarea preferata a cristalitelor intr-o proba. Daca este prezenta o textura intr-un material, intensitatea unei linii de difractie se modifica odata cu orientarea esantionului in raport cu fasciculul incident.

Dimensiunea cristalitului si tulpina microactiva – aceste informatii sunt obtinute prin analiza latimii si a formei liniilor de difractie.

Analiza structurii XRD este utilizata pentru a investiga structura cristalografica a unui material. Pozitia si intensitatile relative ale liniilor de difractie pot fi corelate cu pozitia atomilor din celula unitatii si dimensiunile acesteia. Indexarea, perfectionarea structurii si simularea pot fi obtinute cu programe informatice specifice.

Difractometrul Europe 600 este de tip desktop, avand ca scop general analiza cantitativa si calitativa a materialelor policristaline.

 

Dimensiunile sale compacte si designul robust, permit instalarea si operarea intr-un spatiu mic, cu costuri reduse de operare si intretinere.

Datorita ofertei largi de configuratii si accesorii, cum ar fi detectorul de mare viteza, contorul de scintilatii, monocromatorul secundar, centrifuga si suportul pentru monstre multiple, Europa 600 este instrumental perfect pentru analiza asigurarii calitatii industrial de rutina si pentru predarea XRD la nivel academic.

Sistemul functioneaza la 600 W pentru a permite o analiza mai rapida si rezultate globale.

-         Ultra compact

-         Theta / 2 Theta goniometru excesiv

-         Fara incinta de radiatie

-         Instalare simpla si usor de folosit

 

Aplicatii:

Analiza fazei calitative si cantitative, analiza non-ambientala, cuantificarea austenite retinuta, Solutia si rafinamentul structurii, dimensiunile cristalitei si calculi de cristalinitate.

-         Geologie si mineralogy / Argile

-         Sticla / Ceramica / Ciment

-         Chimicale / Petrochimice

-         Catalizator / Polimeri

-         Criminalistica

-         Stiinte agricole

-         Produse farmaceutice

-         Produse cosmetice

-         Arta si arheologie

 

 

 

 

Generator

X-Ray

Maximum Output Power

600 W (option: 300 W)

Output Stability

≤25ppm/hr after a 2 hour warm up

Max Output Voltage

40 kV (option: 30 kV)

Max Output Current

15 mA (option: 10 mA)

Voltage Step Width

0.1 kV

Current Step Width

0.1 mA

Ripple

≤1%rms at >20 kHz, 0.1%rms below 20 kHz

Preheat and Ramp

Automatic preheat and ramp control circuit

Input Voltage

230 Vac +/-10%, 50 or 60 Hz, single phase

Tub X-Ray

Type

Glass (option: Ceramic), Cu Anode, Fine Focus (options: any kind of X-Ray tube)

Focus

0.4 x 8 mm LFF (other options available)

Max Output

600 kW

Goniometer

Configurations

Vertical Theta/2Theta geometry

Measuring circle diameters

150 mm

Vertical Scanning Angular Range

- 5° < 2 Theta < + 145° (according to accessories)

Smallest selectable stepsize

0.005°

Angular reproducibility

+/- 0.001°

Accuracy

+/- 0.01

Modes of operation

Continuous scan, step scan, theta or 2 theta scan, fast scan

Variable Divergence slits

0 - 4°

Variable Anti-Divergence slits

0 - 4°

Variable Receiver slits

0 - 4°

Soller slits

2.3°

Detector

Type

Scintillation counter Nal (options: YAP(Ce); multistrip)

Count rate

10(5) cps (Nal); 2 x 10(7) cps (Yap(Ce))

Case

Dimensions

Width 600 mm, heigh 750 mm, depth 500 mm

Weight

130 kg

Leakage X-rays

< 1 mSv/Year (full safety shielding according to the international guidelines)

Processing Unit

Computer Type

Personal Computer, the latest version

Items controlled

X-ray generator, goniometer, sample holder, detector

Basic Data Processing

Polynomial least squares smoothing. Fourier smoothing. Search for Peaks (automatic and manual). Spline background subtraction. Single peak analysis (area, FWHM, centroid, background). Marquardt fit (with pseudo-Voigt and Pearson VII curves, Ka2 contribution, weighted sum of squares). Sum and multiply by a constant. Scale normalization. Zoom. Graphical windows. Overlap and comparison of diffractograms. Multiview function. Cursor scan. Creation of graphic files .BMP. ICDD-PDF2 Card Overlap. Creation of calibration curves. Analysis of unknown samples. Qualitative and quantitative phase analysis. Rietveld analysis, crystalline structural analysis, crystallite size and lattice strain, crystallinity calculation

 

 

Software

Programe de colectare a datelor

 

GNR ofera o mare varietate de programe de achizitie, atat pentru standard, cat si pentru configuratii hardware personalizate. Lista cuprinde programe pentru difractometre cu pulbere, austenite retinute, culegere de date de stress (plan si triaxial) si filme subtiri (XRD si GIXRD).

 

SAX

Analiza de varf unic; tratament de varf; scaderea fundalului, netezirea, deconvolutia si localizarea varfurilor. Analiza structural, marimea cristalelitei, tulpina de latura, reflectometria, analiza cantitativa.

 

30 other products in the same category:

Compare 0