СКАНИРАЩ ЕЛЕКТРОНЕН МИКРОСКОП SEM NIKON JCM 6000 PLUS
Сканиращ електронен микроскоп – мощна, но икономична настолна версия от Nikon и JEOL.
JCM-6000Plus
Най-новата в настолната SEM технология, JCM-6000Plus “NeoScopeTM”, е многофункционален настолен сканиращ микроскоп, управляван от сензорен панел, който отговаря на все по-разнообразните нужди на потребителите по целия свят. JCM-6000Plus е оборудван с високочувствителни полупроводникови детектори, намиращи се в инструменти от висок клас, което улеснява получаването на информация за контраста на състава на образеца и позволява ефективен анализ. Серията продължава да включва функционалност с висок вакуум и вторичен електронен детектор, предлагащ възможност за ясно наблюдение на фини структури върху повърхността на образеца при голямо увеличение.
Основни характеристики на JEOL JCM-6000plus
Автоматично формиране на изображение след въвеждане на пробата в рамките на 3 минути
Висока разделителна способност (60 000X) и голяма дълбочина на полето
Интерфейс с мултитъч екран за интуитивна работа
Разширени автоматични функции (фокус, стигмация, яркост/контраст)
Режими на висок и нисък вакуум
Три избираеми ускоряващи напрежения
Детектор на вторични електрони и твърдотелни обратно разпръснати електрони
Голямо покритие на пробата (до 70 мм диаметър)
Опциите включват: степен на моторно задвижване и EDS
Високопроизводителна система в компактен иновативен модел
Интуитивна работа с сензорен панел с нов GUI
Добре фокусирано морфологично наблюдение с висока разделителна способност
Изобразяване на вторични електрони, както и обратно разпръснати електрони за композиционно разпределение
Избираеми ускоряващи напрежения
Работа с висок и нисък вакуум
Пълнофункционална енергийно дисперсионна рентгенова спектроскопия (EDS) с SDD технология (по избор)
Поддържа се метрология
Изобразяване на наклонени, завъртени проби (По избор)
Сензорен панел
Лесна работа чрез мултитъч екран или стандартна клавиатура/мишка
Компактен, лек и енергоспестяващ
Компактен корпус JCM-6000
Компактен корпус, равен на оптичен микроскоп
Основен модул: 330 мм (Ш) x 490 мм (Д) x 430 мм (В); 50 кг
Полезност: Еднофазна 100 V до 240 V, 50/60 Hz, 700 до 960 VA
Нови възможности за изобразяване
Вторично електронно изображение и обратно разпръснато електронно изображение, поддържано при висок вакуум
Нов високочувствителен твърд детектор за обратно разсейване на електрони предоставя информация както за състава, така и за топографските изображения
Изображения с двойна рамка за улесняване на сравнението на живи и извлечени изображения
Широк диапазон на увеличение от най-ниските 10x за широка зрителна област до 60 000x
Дисплей с двойна рамка
Едновременното показване на живи и извлечени изображения позволява сравнително наблюдение
Подобрена способност за нисък вакуум
Нов твърд детектор за обратно разсеяни електрони
Лесно наблюдение на непроводими проби в директен нисък вакуумен режим
Само 2 минути и 30 секунди от зареждането на пробата до изобразяването
Лесна работа
Лесна работа с сензорен панел
Пълен набор от автоматизирани функции (автоматичен фокус, автоматичен стигматор, автоматичен контраст/яркость)
Лесно, надеждно подравняване на автоматичен пистолет (центриране на нажежаемата жичка)
Моторизиран държач за накланяне/въртене
Държачът за образци с моторно задвижване с накланяне/въртене позволява на оператора да накланя и завърта пробата за добре фокусирано 3D морфологично наблюдение.
Допълнителни аксесоари
Енергодисперсионен рентгенов спектрометър
Енергийно дисперсионен рентгенов спектрометър (EDS) за елементен анализ
Собственият EDS на JEOL
Бързата, надеждна поддръжка на клиенти гарантира удовлетворение
*Тази опция може да се монтира допълнително
