Cerere oferta

    https://topmetrology.ro/wp-content/uploads/2021/12/jcm7000-en.pdf

      Descarcă catalogul TopMetrology

      Microscop Electronic Neoscope SEM 7000

      Microscop Electronic Neoscope SEM 7000

      Microscop Electronic SEM 7000 – are functiile automate avansate, impreuna cu automatizarea mesei de lucru si software-ul permit realizarea cu usurinta a imagisticii mostrelor de analiza elementala pentru toti utilizatorii de toate nivelurile de experienta.

      Microscop Electronic SEM 7000 – ofera imagini 3D in timp real dearece este echipat cu o camera digitala de inalta rezolutie si detectori de electroni secundari si retrospectivi (SED si BSED), fiind considerat  un dispozitiv SMART-FLEXIBIL-PUTERNIC.

      Functiile automate extrem de avansate ale lui JCM-7000, automatizarea etapei si software-ul permit obtinerea cu usurinta de imagini ale probelor si analiza elementara pentru utilizatorii de toate nivelurile de experienta.

      Echipat cu o camera mare pentru probe, cu moduri de functionare cu vid inalt si scazut, cu detectoare de electroni secundari si de retrodifuzie (SED & BSED), cu imagistica 3D in timp real, cu instrumente metrologice usor de utilizat si cu EDS optional complet integrat. JCM-7000 NeoScope este INTELIGENT – FLEXIBIL – PUTERNIC.

      Microscop Electronic Neoscope SEM 7000 – Highlights

      INTELIGENT – Cele mai recente inovatii sunt incorporate in platforma de banc pentru a face SEM accesibil tuturor. Toate comenzile sunt la indemana utilizatorului prin intermediul unei interfete software intuitive. Setarea automata a conditiilor se bazeaza pe tipul de proba si pe aplicatie pentru formarea imaginilor in cateva minute. Navigarea fara intreruperi de la graficul suportului sau imaginea optica (optional) la imaginea SEM de inalta rezolutie sporeste productivitatea.

      FLEXIBIL – Alegeti platforma potrivita. Adaugati optiuni cum ar fi sistemul de navigare a treptelor (camera color), suportul motorizat cu rotire inclinata pentru manipularea probelor, EDS complet incorporat pentru analiza elementara si Smile View Map pentru reconstructia imaginii 3D si analiza texturii suprafetei.

      PUTERNIC – Sursa cu filament de tungsten (W) de inalta rezolutie permite o marire de pana la 100.000X. Camera analitica de mari dimensiuni poate manipula esantioane de pana la 80 mm (D) x 50 mm (H). Detectoarele de electroni secundari si de retrodifuzie, impreuna cu modurile de functionare cu vid inalt si scazut, permit studierea unei mari varietati de tipuri de probe. Detectorul BSE suporta imagistica 3D in direct pentru cunoasterea intuitiva a formei suprafetei probei.

      Zeromag – Simplifica navigarea si imbunatateste randamentul prin asigurarea unei tranzitii fara intreruperi de la o imagine color a camerei (optional) sau de la un grafic al suportului la imaginea SEM live.

      Montage – Posibilitatea de a configura imbinarea automata a imaginilor si hartile EDS de montaj automat.

      Mai multe moduri de imagistica live – Imagistica SE si BSE simultana si include amestecarea semnalelor cu controlul utilizatorului asupra contributiei de la fiecare detector.

      Instalare usoara – Acest sistem este compatibil cu priza electrica standard (nu este necesar un circuit special).

      SmileView™ Lab – Software-ul central de gestionare a datelor face legatura intre imaginea SNS (optica), imaginile SEM si rezultatele si locatiile analizelor EDS. Dispunere inteligenta a rapoartelor.

       

      Beneficii si caracteristici

      Eficienta de lucru imbunatatita

      Care este materialul strain observat pentru prima data cu microscopul optic? Exista probleme legate de forma piesei? Materia prima a fost contaminata sau a iesit din specificatii? Confirmati rapid morfologia si compozitia (elementele constitutive), care nu pot fi identificate pe deplin doar cu ajutorul unui microscop optic.

      Eficienta ridicata

      Cu ajutorul SEM este posibil sa se observe o vedere de contrast de compozitie care nu poate fi observata intr-o imagine optica, astfel incat, chiar si la aceeasi marire, se pot obtine mai multe informatii. Observarea si analiza pot fi efectuate fara nicio pretratare a specimenului, utilizand modul cu vid redus.

       

      Tranzitie fara probleme de la imagistica optica la cea SEM

      Zeromag (accesoriu optional)

      O imagine optica este achizitionata automat la introducerea probei. Cautati campul de vizualizare pe imaginea optica, apoi faceti zoom pe tinta pentru a trece automat la o imagine SEM. Deplasarea in pozitia de observare este usoara pentru o achizitie rapida a imaginii SEM cu un numar minim de pasi.

      Modul cu vid redus (LV)

      In plus fata de modul de vid inalt pentru cea mai clara observare SEM a morfologiei suprafetelor, microscopul Electronic SEM 7000 este echipat cu inca doua moduri de presiune LV pentru a permite vizualizarea si obtinerea de imagini ale diferitelor probe neconductoare fara pretratare.

      Screening in timp ce se efectueaza observarea cu Live Analysis.

      Tranzitie fara probleme de la imagistica SEM la analiza EDS

      Cu Live Analysis, observarea SEM si analiza EDS nu mai sunt etape separate. Spectrul de raze X cu principalele elemente constitutive sunt afisate in timp real pe ecranul de observare.

      JCM-7000 include, de asemenea, Live Map pentru a vizualiza distributia spatiala a elementelor in Timp Real. Live Map creste probabilitatea de a gasi elementele de interes, precum si de a detecta elemente neasteptate.

      CREAREA DE RAPOARTE SI GESTIONAREA SIMPLA A DATELOR

      SMILE VIEW Lab este un program software de gestionare a datelor complet integrat, care leaga imaginile optice, imaginile SEM, rezultatele analizei EDS si coordonatele corespunzatoare ale etapei pentru generarea rapida a rapoartelor sau pentru reamintirea pozitiei specimenului si a conditiilor SEM in vederea unui studiu ulterior.

      CREAREA PE LOTURI A RAPOARTELOR

      In ecranul de gestionare a datelor, utilizatorii pot revizui sau reanaliza datele, precum si genera rapoarte pe loturi din toate datele, imagini SEM prin analiza. Ecranul de gestionare a datelor poate fi deschis cu ajutorul butonului Data management (Gestionare date) sau din lista de date masurate. Odata ce datele sunt selectate, se poate genera un raport cu un singur clic. Rapoartele pot fi exportate in format PDF, Microsoft Word sau PowerPoint®.

      Vizionati pe YouTube:

      Descărcați broșura

      TRANSPORT GRATUIT

      pentru toate produsele pana la sediul dvs.

      CONSULTANTA

      solutia optima pentru aplicatia dvs.

      MONTAJ

      punerea in functie si efectuarea testelor

      INSTRUCTAJ

      instruirea personalului pentru operare optima

      SERVICE TEHNIC

      in perioada garantiei si post-garantie

      Descriere

      Microscop Electronic Neoscope SEM 7000

      Microscop Electronic SEM 7000 – are functiile automate avansate, impreuna cu automatizarea mesei de lucru si software-ul permit realizarea cu usurinta a imagisticii mostrelor de analiza elementala pentru toti utilizatorii de toate nivelurile de experienta.

      Microscop Electronic SEM 7000 – ofera imagini 3D in timp real dearece este echipat cu o camera digitala de inalta rezolutie si detectori de electroni secundari si retrospectivi (SED si BSED), fiind considerat  un dispozitiv SMART-FLEXIBIL-PUTERNIC.

      Functiile automate extrem de avansate ale lui JCM-7000, automatizarea etapei si software-ul permit obtinerea cu usurinta de imagini ale probelor si analiza elementara pentru utilizatorii de toate nivelurile de experienta.

      Echipat cu o camera mare pentru probe, cu moduri de functionare cu vid inalt si scazut, cu detectoare de electroni secundari si de retrodifuzie (SED & BSED), cu imagistica 3D in timp real, cu instrumente metrologice usor de utilizat si cu EDS optional complet integrat. JCM-7000 NeoScope este INTELIGENT – FLEXIBIL – PUTERNIC.

      Microscop Electronic Neoscope SEM 7000 – Highlights

      INTELIGENT – Cele mai recente inovatii sunt incorporate in platforma de banc pentru a face SEM accesibil tuturor. Toate comenzile sunt la indemana utilizatorului prin intermediul unei interfete software intuitive. Setarea automata a conditiilor se bazeaza pe tipul de proba si pe aplicatie pentru formarea imaginilor in cateva minute. Navigarea fara intreruperi de la graficul suportului sau imaginea optica (optional) la imaginea SEM de inalta rezolutie sporeste productivitatea.

      FLEXIBIL – Alegeti platforma potrivita. Adaugati optiuni cum ar fi sistemul de navigare a treptelor (camera color), suportul motorizat cu rotire inclinata pentru manipularea probelor, EDS complet incorporat pentru analiza elementara si Smile View Map pentru reconstructia imaginii 3D si analiza texturii suprafetei.

      PUTERNIC – Sursa cu filament de tungsten (W) de inalta rezolutie permite o marire de pana la 100.000X. Camera analitica de mari dimensiuni poate manipula esantioane de pana la 80 mm (D) x 50 mm (H). Detectoarele de electroni secundari si de retrodifuzie, impreuna cu modurile de functionare cu vid inalt si scazut, permit studierea unei mari varietati de tipuri de probe. Detectorul BSE suporta imagistica 3D in direct pentru cunoasterea intuitiva a formei suprafetei probei.

      Zeromag – Simplifica navigarea si imbunatateste randamentul prin asigurarea unei tranzitii fara intreruperi de la o imagine color a camerei (optional) sau de la un grafic al suportului la imaginea SEM live.

      Montage – Posibilitatea de a configura imbinarea automata a imaginilor si hartile EDS de montaj automat.

      Mai multe moduri de imagistica live – Imagistica SE si BSE simultana si include amestecarea semnalelor cu controlul utilizatorului asupra contributiei de la fiecare detector.

      Instalare usoara – Acest sistem este compatibil cu priza electrica standard (nu este necesar un circuit special).

      SmileView™ Lab – Software-ul central de gestionare a datelor face legatura intre imaginea SNS (optica), imaginile SEM si rezultatele si locatiile analizelor EDS. Dispunere inteligenta a rapoartelor.

       

      Beneficii si caracteristici

      Eficienta de lucru imbunatatita

      Care este materialul strain observat pentru prima data cu microscopul optic? Exista probleme legate de forma piesei? Materia prima a fost contaminata sau a iesit din specificatii? Confirmati rapid morfologia si compozitia (elementele constitutive), care nu pot fi identificate pe deplin doar cu ajutorul unui microscop optic.

      Eficienta ridicata

      Cu ajutorul SEM este posibil sa se observe o vedere de contrast de compozitie care nu poate fi observata intr-o imagine optica, astfel incat, chiar si la aceeasi marire, se pot obtine mai multe informatii. Observarea si analiza pot fi efectuate fara nicio pretratare a specimenului, utilizand modul cu vid redus.

       

      Tranzitie fara probleme de la imagistica optica la cea SEM

      Zeromag (accesoriu optional)

      O imagine optica este achizitionata automat la introducerea probei. Cautati campul de vizualizare pe imaginea optica, apoi faceti zoom pe tinta pentru a trece automat la o imagine SEM. Deplasarea in pozitia de observare este usoara pentru o achizitie rapida a imaginii SEM cu un numar minim de pasi.

      Modul cu vid redus (LV)

      In plus fata de modul de vid inalt pentru cea mai clara observare SEM a morfologiei suprafetelor, microscopul Electronic SEM 7000 este echipat cu inca doua moduri de presiune LV pentru a permite vizualizarea si obtinerea de imagini ale diferitelor probe neconductoare fara pretratare.

      Screening in timp ce se efectueaza observarea cu Live Analysis.

      Tranzitie fara probleme de la imagistica SEM la analiza EDS

      Cu Live Analysis, observarea SEM si analiza EDS nu mai sunt etape separate. Spectrul de raze X cu principalele elemente constitutive sunt afisate in timp real pe ecranul de observare.

      JCM-7000 include, de asemenea, Live Map pentru a vizualiza distributia spatiala a elementelor in Timp Real. Live Map creste probabilitatea de a gasi elementele de interes, precum si de a detecta elemente neasteptate.

      CREAREA DE RAPOARTE SI GESTIONAREA SIMPLA A DATELOR

      SMILE VIEW Lab este un program software de gestionare a datelor complet integrat, care leaga imaginile optice, imaginile SEM, rezultatele analizei EDS si coordonatele corespunzatoare ale etapei pentru generarea rapida a rapoartelor sau pentru reamintirea pozitiei specimenului si a conditiilor SEM in vederea unui studiu ulterior.

      CREAREA PE LOTURI A RAPOARTELOR

      In ecranul de gestionare a datelor, utilizatorii pot revizui sau reanaliza datele, precum si genera rapoarte pe loturi din toate datele, imagini SEM prin analiza. Ecranul de gestionare a datelor poate fi deschis cu ajutorul butonului Data management (Gestionare date) sau din lista de date masurate. Odata ce datele sunt selectate, se poate genera un raport cu un singur clic. Rapoartele pot fi exportate in format PDF, Microsoft Word sau PowerPoint®.

      Vizionati pe YouTube:

      Vezi mai mult Vedeți mai puțin

      Aveți mai multe întrebări?

      Poți solicita o ofertă

      Microscop Electronic Neoscope SEM 7000

      Solicita oferta

      Finanțarea

      Soluții de finanțare pentru achiziționarea de echipamente noi, prin BCR Leasing sau Grenke.

      Vezi Metode de finanțare

      Specificații

      Specificatii Microscop Electronic Neoscope SEM 7000

      Zoom : 10x – 100.000x

      Zoom display : 24x – 202.168 x

      Mod observare :High vacuum/ Low vacuum

      Voltaj de accelerare  : 5KV, 10KV, 15KV

      Sursa electron : Filament tungsten / Wehnelt

      Cursa XY ( motorizat) :  x=40 mm , y= 40 mm

      Dimensiuni maxime piesa : 80 mm (D)  x 50mm (H)

      Dimensiuni unitate SEM 7000 : 324 mm (W) x 586 mm (D) x 566 mm (H)

      Greutate unitate SEM :  67 kg

      Format documente: BMP , TIFF, JPEG, PNG

      Computer: Desktop PC , Windows 10

      Monitor: 24 inch

      Cerinte de instalare

      Alimentare electrica: AC 100 V sau ( 120 V, 220V, 240V)

      Toleranta la variatia tensiunii : 

      • 90 pana la 110 V la tensiunea de alimentare 100V
      • 108 pana la 132 V la tensiunea de alimentare 120 V
      • 198 pana la 242 V la tensiunea de alimentare 220 V
      • 216 pana la 250 V la tensiunea de alimentare 240 V

      Temperatura incapere :  de la 15 pana la 30 ºC

      Umiditate :  de la 30% pana la 60% RH

       

      Consultați Catalogul de produse

      Puteți găsi toate produsele noastre pe care vă puteți baza întotdeauna!

      Deschideți catalogul