Difractometru cu raze X pentru determinarea austenitului retinut - GNR AreX

Difractia cu raze X (XRD) este o Tehnica nedistructiva pentru analiza calitativa si cantitativa a materialelor cristaline sub forma de pulbere sau solid.

Portofoliul de produse GNR XRD acopera o gama larga de aplicatii pentru caracterizarea materialelor si controlul calitatii materialelor cristaline sau non-cristaline, cum ar fi pulberi, probe, filme subtiri sau lichide.

Cum functioneaza?

In principiu, XRD este obtinut ca “reflexie” a fasciculului de raze X dintr-o familie de plane atomice paralele distantate in mod egal, urmand legea lui Bragg: cand un fascicul de raze X monocromatice cu lungimea de unda L este incident pe planuri cu unghi q, difractia apare daca calea razelor reflectate de planurile successive (cu distanta d) este un multiplu al lungimii de unda.

Analiza calitativa (analiza de faza) se poate face datorita compararii difractogramei obtinute din specimen, cu un numar mare de modele incluse in bazele de date oficiale.

Unde poate fi folosita metoda XRD?

Fortele de stress residual – care duc la o mica comprimare sau dilatare a distantei d. Cu XRD este posibil sa se masoare tulpina (deformarea laturii originale), iar tensiunea se calculeaza datorita cunoasterii constantelor elastice ale materialului.

Textura – este orientarea preferata a cristalitelor intr-o proba. Daca este prezenta o textura intr-un material, intensitatea unei linii de difractie se modifica odata cu orientarea esantionului in raport cu fasciculul incident.

Dimensiunea cristalitului si tulpina microactiva – aceste informatii sunt obtinute prin analiza latimii si a formei liniilor de difractie.

Analiza structurii XRD este utilizata pentru a investiga structura cristalografica a unui material. Pozitia si intensitatile relative ale liniilor de difractie pot fi corelate cu pozitia atomilor din celula unitatii si dimensiunile acesteia. Indexarea, perfectionarea structurii si simularea pot fi obtinute cu programe informatice specifice.

Instrument complet automatizat pentru determinarea austenitului retinut!

Masurarea exacta a nivelurilor de austenite retinuta este importanta in dezvoltarea si controlul procesului de tartare termica din industria siderurgica.

Difractia cu raze X (XRD) este considerate metoda cea mai exacta care poate determina cu acuratete nivelurile de austenite retinute pana la 0,5%.

Intensitatile integrate ale austenitei (220) si (311) si ale feritei (200) si (211) sunt masurate pe difractometrul ARE X. Utilizarea varfurilor de difractie multiple, minimizeaza efectele orientarii preferate si permite detectarea interferentelor din carburi.

ARE X este echipat cu cele mai modern caracteristici tehnice, care ofera precizie, siguranta si usurinta in utilizare, fiind special conceput pentru determinarea cantitativa a austenitelor retinute.

ARE X este singurul echipament capabil sa garanteze conformitatea cu ASTM E975-03.

Datorita conceptului innovator al ARE X, procentul volumului de austenite retinute poate fi masurat in cateva minute, plasand proba si apasand butonul de pornire.

Aplicatii:

–         Determinarea cantitativa a continutului de austenite retinut in otelurile tratate termic prin difractie cu raze X, a oferit o medie sigura de control al proprietatilor si de asigurare a calitatii.

–         Difractia cu raze X este considerate cea mai exacta metoda de determinare a cantitatii de austenite retinuta in oteluri.

Software:

Achizitia si analiza austenitei

Software-ul este conceput pentru a functiona pe Windows 7.

Cuantificarea automata a austenitelor in conformitate cu standardul ASTM E 975-03.

Afisarea, tiparirea si stocarea datelor pe hard disk.