Nikon XT H 225 / 320 / 450
XT H 225/320 LC има по-мощен рентгенов източник, с възможност за извършване на инспекции с висока точност на плътни индустриални обекти.
Nikon Metrology е единствената компания, произвеждаща 320kV микрофокусни рентгенови източници. Тъй като размерът на рентгеновото петно на тези източници е в пъти по-малък в сравнение с мини-фокусните източници, крайните потребители могат да се възползват от отлична резолюция, по-висока точност и по-широк спектър на измерваните образци.
Основни предимства:
- Патентован 225/320kV микрофокусен рентгенов източник
- Високоточна инспекция на плътни индустриални обекти
- Лесна за използване система и ниска цена на притежание
- Високо качество на образите
- Автоматизирана инспекция
- Безопасност
Категория: Компютърна томография
Приложения: Производство на метални детайли, Мобилни телефони и часовници, Импланти и протези, Производство на пластмасови детайли, Анализ на пукнатини и повреди, Автоматизирани измервания, Инспекция на компоненти в самолетостроенето и автомобилостроенето, Зъботехнически приложения, Бяла техника, Дефекти в композитни материали, скали, минерали, металургични инспекции и др.
| XT H 225 | XT H 225 ST | XT H 225/320 LC | |
| Рентгенов източник (стандартен): | 225kV Microfocus Reflection Target | 225kV Microfocus Reflection Target | 225kV Microfocus Reflection Target |
|---|---|---|---|
| Рентгенов източник (опция): | 180kV Microfocus Transmission Target Rotating Target | 180kV Microfocus Transmission Target 225kV Rotating Target | 320kV Module 225kV Rotating Target |
| Захранване kV: | 180kV/ 225kV | 180kV/ 225kV | 225kV/ 320 kV |
| Мощност: | 225W | 225W | 225W/ 320 W (320kV Module) |
| Размер на рентгеновото петно: | 180kV Transmission Target: 1µm 225kV Reflection Target: 3μm | 180kV Transmission Target: 1µm 225kV Reflection Target: 3μm | 225kV Reflection Target: 3μm 320kV Module: 20μm |
| Геометрично увеличение | > 150x | > 150x | > 150x |
| Система за визуализация (стандартна): | Varian 2520 Flat Panel Detector | Varian 2520 Flat Panel Detector | Varian 2520 Flat Panel Detector |
| Система за визуализация (опция): | Perkin Elmer 0820 Flat Panel Detector Varian 4030 Flat Panel Detector | Varian 4030 Flat Panel Detector Perkin Elmer 1620 Flat Panel Detector Perkin Elmer 1621 EHS Flat Panel Detector | Varian 4030 Flat Panel Detector Perkin Elmer 1620 Flat Panel Detector Perkin Elmer 1621 EHS Flat Panel Detector |
| Манипулатор (стандартен): | 5 Axes | 5 Axes | 4 Axes |
| Ход по осите: | (X) 185mm (Y) 280mm (Z) 730mm (Tilt) +/- 30° (Rotate) n*360° | (X) 300mm (Y) 350mm (Z) 750mm (Tilt) +/- 30° (Rotate) n*360° | (X) 500mm (Y) 600mm (Z) 780mm (Rotate) n*360° |
| Манипулатор (опция): | n.a. | n.a. | Additional Tilt Axis |
| Максимално тегло на образеца: | 15 kg | 50 kg | 100 kg |
| Размери на корпуса (LxWxH): | 1,830mm x 875mm x 1,987mm | 2,330mm x 1,285mm x 2,230mm | 2,695mm x 2,366mm x 1,834mm |
| Тегло: | 2,400 kg | 4,200 kg | 8,000 kg |
| Безопасност: | All Nikon Metrology X-ray systems are manufactured to IRR99 | All Nikon Metrology X-ray systems are manufactured to IRR99 | All Nikon Metrology X-ray systems are manufactured to IRR99 |
| Управление: | All Nikon Metrology X-Ray systems are controlled by Nikon Metrology’s in-house Inspect-X software | All Nikon Metrology X-Ray systems are controlled by Nikon Metrology’s in-house Inspect-X software | All Nikon Metrology X-Ray systems are controlled by Nikon Metrology’s in-house Inspect-X software |
| Опции на системата: | Advanced High Speed Reconstruction Workstation | Advanced High Speed Reconstruction Workstation | Advanced High Speed Reconstruction Workstation |
| Опции на системата: | Multi Metal Target (UltraFocus Reflecton Target Only) Advanced Filter Kit (UltraFocus Reflection Target Only) | Multi Metal Target (UltraFocus Reflecton Target Only) Advanced Filter Kit (UltraFocus Reflection Target Only) | Multi Metal Target (UltraFocus Reflecton Target Only) Advanced Filter Kit (UltraFocus Reflection Target Only) |
