Metrologie
Afișez 91 - 99 din 328 de rezultate
-
Instrumente pentru analiza suprafetelor, abateri de forma si conturSurtronic S100 – Taylor Hobson
Rugozimetrul portabil Surtronic S-100 combină tehnologia avansată cu precizia și posibilitatea de a măsură eficient parametrii de rugozitate (Ra, Rsk, Rz, Rt, Rp, Rz1max) în fabrică, camere metrologice sau laboratoare.
(0 reviews) -
Instrumente pentru analiza suprafetelor, abateri de forma si conturForm Talysurf i-Series PRO – Taylor Hobson
Form Talysurf i-Series PRO este o serie de instrumente de înaltă precizie și acuratețe capabile să măsoare simultan finisajul suprafețelor și conturul. Axele cu zgomot redus ale sistemului și instrumentul de măsurare de înaltă rezoluție asigură integritatea măsurătorilor, iar alegerea intervalelor de măsurare oferă versatilitate pentru o varietate de aplicații.
(0 reviews) -
Spectrometre OESSpectrometru cu emisie optica (EOS) – GNR S1 MiniLab 150
Spectrometria cu emisie optica (OES), este o tehnica analitica universala, folosita pentru determinarea compozitiei chimice a aliajelor metalice.
(0 reviews) -
Spectrometre OESSpectrometru optic de emisie optică bazat pe CCD pentru analiza metalelor – S5 Solaris CCD Plus (SCP)
S5 Solaris CCD Plus (S5 SCP) este un spectrometru avansat cu emisie optica bazat pe CCD pentru analiza metalica.
(0 reviews)
