Difractometru cu raze X - GNR APD 2000 PRO

Difractia cu raze X (XRD) este o Tehnica nedistructiva pentru analiza calitativa si cantitativa a materialelor cristaline sub forma de pulbere sau solid.

Portofoliul de produse GNR XRD acopera o gama larga de aplicatii pentru caracterizarea materialelor si controlul calitatii materialelor cristaline sau non-cristaline, cum ar fi pulberi, probe, filme subtiri sau lichide.

Cum functioneaza?

In principiu, XRD este obtinut ca “reflexie” a fasciculului de raze X dintr-o familie de plane atomice paralele distantate in mod egal, urmand legea lui Bragg: cand un fascicul de raze X monocromatice cu lungimea de unda L este incident pe planuri cu unghi q, difractia apare daca calea razelor reflectate de planurile successive (cu distanta d) este un multiplu al lungimii de unda.

Analiza calitativa (analiza de faza) se poate face datorita compararii difractogramei obtinute din specimen, cu un numar mare de modele incluse in bazele de date oficiale.

Unde poate fi folosita metoda XRD?

Fortele de stress residual – care duc la o mica comprimare sau dilatare a distantei d. Cu XRD este posibil sa se masoare tulpina (deformarea laturii originale), iar tensiunea se calculeaza datorita cunoasterii constantelor elastice ale materialului.

Textura – este orientarea preferata a cristalitelor intr-o proba. Daca este prezenta o textura intr-un material, intensitatea unei linii de difractie se modifica odata cu orientarea esantionului in raport cu fasciculul incident.

Dimensiunea cristalitului si tulpina microactiva – aceste informatii sunt obtinute prin analiza latimii si a formei liniilor de difractie.

Analiza structurii XRD este utilizata pentru a investiga structura cristalografica a unui material. Pozitia si intensitatile relative ale liniilor de difractie pot fi corelate cu pozitia atomilor din celula unitatii si dimensiunile acesteia. Indexarea, perfectionarea structurii si simularea pot fi obtinute cu programe informatice specifice.

APD 2000 PRO este un difractometru de laborator, cu o putere mare – Theta / 2Theta – echipat cu cele mai moderne caracteristici tehnice care ofera percizia, siguranta si usurinta utilizarii pentru analiza XRD a materialelor policristaline.

Datorita unei largi oferte de configuratii si accesorii, cum ar fi detectorul de mare viteza, contorul de scintilatie, incinta cu temperatura si umiditate scazuta, monocromator secundar, centrifuga si suport pentru probe multiple, APD 2000 PRO este un instrument puternic pentru aplicatiile de difractie a pulberilor, analiza fazei cailtative si cantitative, analiza non-ambientala, marimea cristalului si gradul de calcul al cristalinitatii.

–        Viteza mare (1000°/min)

–        Reproductibilitatea unghiurilor cu mare precizie (+/- 0,0001 °)

–        Masuratori rapide cu date precise

–        Valori unghiulare extrem de precise, datorita motoarelor cu pas cu encodere optice

–        Usor de utilizat

Caracteristici APD 2000 PRO:

–        Difractometru cu raze X pentru pulberi calitative si cantitative

–        Generator de raze X cu o stabilitate impresionanta

–        Tuburi ceramice cu raze X cu reproductibilitate ridicate si stabilitatea pozitiei de focalizare

–        Tuburi microfocus si colimatoare policapilare

–        Posibilitatea schimbarii automate de la modul de transmisie la modul de reflectie

–        Geniometru de inalta precizie, de mare viteza, controlat de codificatoare optice

–        Suporturi rotative pentru esantioane

–        Contoare de scintilatie, detector de benzi de siliciu si de dispersie a energiei

Aplicatii:

–        Geologie si mineralogie / Argile

–        Sticla / Ceramica / Ciment

–        Chimicale / Petrochimice

–        Catalizator / Polimeri

–        Criminalistica

–        Stiinte agricole

–        Produse farmaceutice

–        Produse cosmetic

–        Arta si arheologie

Software

Programe de colectare a datelor

GNR ofera o mare varietate de programe de achizitie, atat pentru standard, cat si pentru configuratii hardware personalizate. Lista cuprinde programe pentru difractometre cu pulbere, austenite retinute, culegere de date de stress (plan si triaxial) si filme subtiri (XRD si GIXRD).

SAX

Analiza de varf unic; tratament de varf; scaderea fundalului, netezirea, deconvolutia si localizarea varfurilor. Analiza structural, marimea cristalelitei, tulpina de latura, reflectometria, analiza cantitativa.