Difractometru cu raze X - GNR EXPLORER

Difractia cu raze X (XRD) este o Tehnica nedistructiva pentru analiza calitativa si cantitativa a materialelor cristaline sub forma de pulbere sau solid.

Portofoliul de produse GNR XRD acopera o gama larga de aplicatii pentru caracterizarea materialelor si controlul calitatii materialelor cristaline sau non-cristaline, cum ar fi pulberi, probe, filme subtiri sau lichide.

Cum functioneaza?

In principiu, XRD este obtinut ca “reflexie” a fasciculului de raze X dintr-o familie de plane atomice paralele distantate in mod egal, urmand legea lui Bragg: cand un fascicul de raze X monocromatice cu lungimea de unda L este incident pe planuri cu unghi q, difractia apare daca calea razelor reflectate de planurile successive (cu distanta d) este un multiplu al lungimii de unda.

Analiza calitativa (analiza de faza) se poate face datorita compararii difractogramei obtinute din specimen, cu un numar mare de modele incluse in bazele de date oficiale.

Unde poate fi folosita metoda XRD?

Fortele de stress residual – care duc la o mica comprimare sau dilatare a distantei d. Cu XRD este posibil sa se masoare tulpina (deformarea laturii originale), iar tensiunea se calculeaza datorita cunoasterii constantelor elastice ale materialului.

Textura – este orientarea preferata a cristalitelor intr-o proba. Daca este prezenta o textura intr-un material, intensitatea unei linii de difractie se modifica odata cu orientarea esantionului in raport cu fasciculul incident.

Dimensiunea cristalitului si tulpina microactiva – aceste informatii sunt obtinute prin analiza latimii si a formei liniilor de difractie.

Analiza structurii XRD este utilizata pentru a investiga structura cristalografica a unui material. Pozitia si intensitatile relative ale liniilor de difractie pot fi corelate cu pozitia atomilor din celula unitatii si dimensiunile acesteia. Indexarea, perfectionarea structurii si simularea pot fi obtinute cu programe informatice specifice.

Flexibilitate si modularitate fara limite

EXPLORER este un difractometru Theta cu rezolutie inalta, datorita motoarelor sale cu cuplu direct, oferind performante de top in multe domenii analitice, de la analiza de faza pana la determinarea proprietatilor microstructurale pe material subtiri.

Datorita modularitatii sale si a gamei largi de accesorii disponibile, EXPLORER permite efectuarea masuratorilor in diferite configuratii: difractia traditionala a pulberilor cu raze X (XPD), reflectometria (XRR), difractia cu raze X (GIXRD), fluorescent totala cu raze X (TXRF), stresul residual si textura cu difractie cu raze X.

Modularitatea si flexibilitatea echipamentului oferit de GNR, permite inceperea cu un system entry-level care poate fi configurat ulterior pentru noi cerinte. GNR poate furniza o gama larga de surse cu raze X, optica, suporturi de proba, detectoare si configuratii pentru a satisface toate nevoile analitice.

Fara aplicatii limitate, sistemul modular EXPLORER ofera performante ridicate in toate ariile analitice, de la cuantificarea fazelor amestecurilor pana la determinarea proprietatilor microstructurale ca stress residual si orientarea cristalitelor pe material in vrac.

Aplicatii:

–         Identificarea si cuantificarea fazelor curente

–         Dimensiunea cristalelitelor – calculul laturii si calculul cristalinitatii

–         Analiza polimorfa si analiza structurii cristalelor

–         Stresul residual si cuantificarea austenitelor retinute

Optica permite comutarea intre Bragg – Brentano, focalizarea si geometria fasciculului paralel utilizand Johansson sau monocromatoare cu oglinda parabolica.

EXPLORER poate caracteriza grosimea stratului ( de la 1 la 500 nm cu o precizie mai buna de 1% ), densitatea ( cu o precizie mai buna de ± 0,03 g / cm3 ), rugozitatea suprafetei si a interferentei ( de la 0 la 5 nm cu o precizie mai buna de ± 0,1 nm ).

SoftwarePrograme de colectare a datelor GNR ofera o mare varietate de programe de achizitie, atat pentru standard, cat si pentru configuratii hardware personalizate. Lista cuprinde programe pentru difractometre cu pulbere, austenite retinute, culegere de date de stress (plan si triaxial) si filme subtiri (XRD si GIXRD).SAXAnaliza de varf unic; tratament de varf; scaderea fundalului, netezirea, deconvolutia si localizarea varfurilor. Analiza structural, marimea cristalelitei, tulpina de latura, reflectometria, analiza cantitativa.