Microscop Nikon Eclipse LV-DAF
Microscop in pozitie verticala perfecta cu o solutie de sistem auto-focus Eclipse LV si aplicatii OEM.
LV-DAF ofera o focalizare rapida si automata cu ajutorul unui sistem hibrid auto-focus. Combinand proiectia fanta si contrastul de detectare a focalizarii automate, permite un interval de focalizare mare si o capacitate de urmarire rapida. Sunt suportate o varietate de metode de observare, inclusiv luminos, intunecat, precum si diferite probe transparente.
Categorie: Microscoape
Aplicatii: telefoane mobile, aparate de ras, ceasuri, telescoape, antene, telecomunicatii si electronice.
Auto-focus hibrid
Exista doua tipuri comune de sisteme auto-focus: proiectie fanta si detectare de contrast.
Sistemul de proiectie fanta proiecteaza o imagine si apoi detecteaza schimbarea de lumina reflectata. Acest sistem este util atunci cand este necesara precizie de focalizare.
Design
Controlerul are acelasi design hardware ca LV-ECON care le permite sa fie stivuite si utilizate oriunde.
Compatibil cu seria LV de microscoape
LV-DAF poate fi combinat cu alte produse din seria LV. Atunci cand sunt combinate cu LV-ECON, acesta permite observarea in conditii optime pentru fiecare proba speciala.
Kit software
Nikon ofera un kit de dezvoltare software (SDK) pentru integrarea LV-DAF intr-o varietate de sisteme. (Compatibilitatea este garantata numai pentru produsele Nikon)
Controlul
LV-DAF poate fi controlat de la un PC sau un sistem digital DS-L2 pentru microscoape prin USB sau RS232.
Program de auto-reglare
Programul automat de reglare este inclus standard si permite o configurare simpla si rapida a sistemului. Programul efectueaza imediat auto-reglare dupa ce utilizatorul conecteaza microscopul si apasa butonul pentru inceperea configurarii. Este de asemenea posibil sa stabileasca automat parametrii inregistrati anterior pentru fiecare proba.
Sursa de lumina cu LED-uri
LV-DAF utilizeaza un sistem cu LED-uri pentru sursa de lumina auto-focus.
Metode multiple de observare
O gama larga de metode de observare este posibila, inclusiv luminos, fond negru si DIC. Probele reflectorizante si probele transparente sunt de asemenea suportate.
Distanta focala mare
Gama de focalizare este remarcabil mai mare decat cu detectare de contrast. Acest lucru inseamna ca probele cu distorsiuni pe suprafata pot fi urmarite rapid, permitand astfel o focalizare rapida.
¹ Some limitations for 2.5x and 100x.
² Using Nikon’s standard Cr vapor deposition sample.
³ Using the LV-IMA or LV-FMA.
