Software inspectie componente electronice multi-strat X.Tract

X.Tract furnizeaza rezultate de calitate in inspectia componentelor electronice multistrat fara a fi necesara felierea placii.

X.Tract este o unealta foarte puternica si inovativa care printr-un process rapid creeaza sectiuni virtuale in jurul regiunii de interes si permite descoperirea defectelor putin vizibile in 2D. X.Tract are la baza un process automatizat de achizitie, unelte de procesare in detaliu a imaginilor si genereaza rapid rapoartele.

Beneficii

• Identifica defectele cu usurinta in placi complexe multi-strat;
• Parcurge component felie cu felie in 2D din orice directie;
• Functioneaza atat pentru placi mici cat si pentru cele de dimensiuni mari;
• Achizitie automata si rapida cu furnizarea rezultatelor in cateva minute;
• Disponibil pentru sistemele XT V 160

Beneficii & Caracteristici

Cum functioneaza X.Tract

Placile sunt pozitionate in sistemul de inspectie componente electronice XT V 160.

Sunt capturate automat imagini 2D la unghi de 360° in jurul zonei de interes de pe placa. Imaginile 2D sunt reconstruite dupa algoritmi rapizi si precisi si rezulta modelul detaliat 3D al piesei.

Modelul poate fi analizat ulterior in orice plan folosind unealta de analiza X.Tract. Acest soft a fost dezvoltat de Nikon Metrology pentru a accelera procesul de detectare a defectelor si de analiza a placilor complexe.

Inspectie rapida si de calitate cu X.Tract

X.Tract pune in evidenta defecte mai putin vizibile in imagini 2D. Cu ajutorul X.Tract utilizatorii reduc alertele false si cresc productivitatea:

• Creeaza sectiuni 3D virtuale prin metoda nedistructiva;
• Analizeaza placi multi-strat unde defectele nu sunt vizibile in 2D
• Inspectia completa BGA, PoP, CSP, QFN, LGA etc.
• Vederi separate pentru placi multi-strat, vederi care in 2D ar fi practic suprapuse;
• Poate determina marinea si pozitionarea golurilor;
• Identifica cu usurinta defecte greu vizibile cum ar fi microfisurile.