Tomograf Nikon XT V 160 inspectie componente electronice

XT V 160 este un sistem special proiectat pentru a fi utilizat direct in linia de productie sau in laboratoarele de analiza a defectelor.

Prevazut cu joystick-uri foarte precise, utilizatorul controleaza cele 5 axe ale manipulatorului. Inspectia cu raze-X in timp real permite utilizatorilor navigarea intuitiva prin componente electronice foarte complexe in cautarea si urmarirea defectelor. In modul de inspectie automat, piesele pot fi analizate cu mare rapiditate.

Beneficii

• Sistemul este echipat cu o sursa de radiatii micro-focus;
• Inspectie automatizata foarte rapida cu ajutorul functiilor macro customizabile;
• Inspectie ultra-rapida in timp real cu ajutorul joystick-urilor;
• Monitor 4K UHD pentru a facilita efectuarea masuratorilor simultan cu inspectia in timp real;
• Tehnologia tub deschis inseamna cost redus de mentenanta si intretinere;
• Siguranta – criteriu de proiectare;
• Pre-echipare CT si X.Tract (laminography).

Sursa NonoTech 160kV cu punct de focalizare sub micron

Un punct de focalizare dub micron impreuna cu tehnologia de ultima generatie din domeniul prelucrarii imaginilor asigura imagini clare si ofera utilizatorului avantajul recunoasterii  defectelor de ordinal micronilor in piese foarte complexe.

Imagini la rezolutii superioare evidentiaza toate defectele

Designul inovativ al sursei de radiatii si pozitionarea vertical, permit apropierea in siguranta la doar 250 de microni a piesei de analizat fata de sursa. In acest caz magnificarea este de 36000x permite detectarea si urmarirea defectelor in cele mai complexe aplicatii. Sursa de radiatii este ata de puternica incat permite evidentierea defectelor chiar si in piese de densitate mare.

Interfata software intuitiva

XT V 160 incorporeaza cel mai avansat software de captura si analiza. Rezultatele pot fi salvate sau exportate in Word, Excel, Acces. Procesarea hardware si software avanseaza mana in mana, acest lucru ducand la rezultate immediate in favoarea clientului.

Inspect-X include functii speciale pentru inspectia semi-conductorilor, analiza golurilor si a firelor de legatura. Inspect-X foloseste functii macro pentru automatizarea procesului si este configurabil in functie de aplicatii.

Cost redus de intretinere

Tehnologia tub deschis dezvoltata de Nikon Metrology a dus la reducerea dimensiunilor cabinetului acestui sistem de inspectie, neafectand in schimb calitatea si performanta. Integrarea generatorului in sursa de radiatii a scazut drastic costurile de mentenata iar pe temen lung acest echipament a devenit foarte usor de intretinut si la costuri reduse.

Ergonomie avansata pentru un acces facil

XT V 130C a fost proiectat pentru o utilizare usoara fara a fi compromisa performanta. Un brat complet configurabil a fost atasat pentru a adduce la indemana utilizatorului intrumentele de control. Sistemul este foarte usor si intuitive de folosit si pune la dispozitia utilizatorului o serie de unelte ajutatoare. Aceste unelte, reduc de fapt timpul de invatare a utilizarii acestui echipament.

Pre-echipat pentru CT (optional)

XT V 130C poate transformat optional intr-un sistem CT. Imaginile 3D pot fi analizate pentru a oferi o mai buna vedere in interiorul componentelor si subansamblelor.