Tomografie computerizata industriala E1 Sistem de inspectie configurabil

E1 Sistem de inspectie configurabil in 6 axe

E1 este un sistem economic modular, dedicat scanarii pieselor de dimensiuni mari. Designul permite pozitionarea rapida si precisa a piesei pe manipulator.

Suporta surse de pana la 450kV, surse ce genereaza suficienta putere pentru a obtine rezultate uimitoare in analiza pieselor mari ca dimensiuni iar rezultatele furnizate au acuratete de ordinul micronilor. Sistemul este disponibil in varianta de echipare cu panou detector si cu surse microfocus Nikon Metrology.

Beneficii

• Manipulator acreditat ultra precis si stabil;
• Posibilitatea inspectarii pieselor foarte mari;
• Poate fi instalat in camere de protectie existente sau la cerere poate fi furnizat cu propriul cabinet;
• Sursa microfocus disponibila in 3 variante 225 kV, 320 kV si 450 kV;
• Suporta instalarea a 2 surse de raze-X;
• Suporta instalarea a 2 panouri detectoare;
• Interfata software intuitiva;
• Vizualizare si analiza 3D avansata
• Functii macro configurabile pentru automatizarea fluxului de lucru.

Aplicatii

• Evaluarea precisa a pieselor turnate, a macanismelor complexes i a componentelor interne;
• Compararea piesei scanate cu modelul CAD;
• Inginerie inversa;
• Analiza defectelor in detaliu;
• Cercetarea aprofundata a materialelor si a structurilor biologice.