Tomograf Nikon XT V 130C inspectie componente electronice

XT V 130C – Inspectie componente electronice la un pret redus

XT V 130C este un sistem fiabil destinat inspectiei componentelor electronice si a semi-conductorilor la preturi reduse. Acest sistem este echipat cu o sursa 130kV / 10W dezvoltata de Nikon Metrology, recunoscuta pe plan mondial pentru tehnologia tub deschis avand un generator si un sistem complet de imagistica integrat.

Utilizatorului final ii este pusa la dispozitie configurarea sistemului in functie de aplicatie: se poate adauga o sursa mai puternica, support rotativ pentru piese, software automat pentru inspectie, un panou digital si pre-echipare CT.

Beneficii

• Sursa 30-130 kv micro-focus recunostere defecte de 2μm;
• Manipulator cu unghi de inclinare la 72° ce permite vederea oblica pentru o inspectie mai usoara a detaliilor interioare;
• Zona mare de masurare de 520×520 mm;
• Navigare intuitiva cu ajutorul joystick-urilor;
• Dual display pentru masurare si analiza in timp real;
• Tehnologia tub deschis inseamna cost redus de mentenanta;
• Siguranta – criteriu de proiectare;
• Pre-echipat CT si X.Tract (laminography).

Beneficii & Caracteristici

Sursa patentata de Nikon Metrology 30 – 130kV cu punct de focalizare de 3μm si recunoasterea defectelor de 2μm

Sistemul XT V 130C foloseste o sursa x-ray montata vertical ce garanteaza un punct de focalizare de 3 microni. Tehnologia tub deschis garanteaza un cost redus de mentenanta si intretinere.

Imaginile de inalta calitate evidentiaza toate defectele

Sistemul XT V 130C incorporeaza tot ceea ce este necesar pentru inspectia componentelor electronice:

• Sursa x-ray microfocus patentata de Nikon Metrology;
• 1034x magnificare permite utilizatorilor sa analizeze orice zona de interes;
• Accurate control of the power and direction of the emitted X-ray beams
• Control precis al puterii sistemului;
• Analiza x-ray in timp real;

Zona de masurare de 520×520 mm

Zona de masurare piese este usor accesibila datorita usii mar ice permite incarcarea placilor de baza mari sau chiar a mai multor componente simultan.

Interfata software intuitiva

XT V 130C incorporeaza cel mai avansat software de captura si analiza. Rezultatele pot fi salvate sau exportate in Word, Excel, Acces. Procesarea hardware si software avanseaza mana in mana, acest lucru ducand la rezultate immediate in favoarea clientului.

Inspect-X include functii speciale pentru inspectia semi-conductorilor, analiza golurilor si a firelor de legatura. Inspect-X foloseste functii macro pentru automatizarea procesului si este configurabil in functie de aplicatii.

Cost redus de intretinere

Tehnologia tub deschis dezvoltata de Nikon Metrology a dus la reducerea dimensiunilor cabinetului acestui sistem de inspectie, neafectand in schimb calitatea si performanta. Integrarea generatorului in sursa de radiatii a scazut drastic costurile de mentenata iar pe temen lung acest echipament a devenit foarte usor de intretinut si la costuri reduse.

Ergonomie avansata pentru un acces facil

XT V 130C a fost proiectat pentru o utilizare usoara fara a fi compromisa performanta. Un brat complet configurabil a fost atasat pentru a adduce la indemana utilizatorului intrumentele de control. Sistemul este foarte usor si intuitive de folosit si pune la dispozitia utilizatorului o serie de unelte ajutatoare. Aceste unelte, reduc de fapt timpul de invatare a utilizarii acestui echipament.

Pre-echipat pentru CT (optional)

XT V 130C poate transformat optional intr-un sistem CT. Imaginile 3D pot fi analizate pentru a oferi o mai buna vedere in interiorul componentelor si subansamblelor.