Cerere oferta

      Descarcă catalogul TopMetrology

      Seria de microscoape Nikon BW

      Observarea cu precizie ridicata a nano-suprafetelor si masurare fara contact

      • Tehnologia de măsurare cu interferență optică de tip scanare de la Nikon atinge rezolutie de 1 picometru (pm). Nikon oferă o mare varietate de microscoape optice ca sisteme de măsurare potrivite pentru o gamă largă de aplicații de măsurare.

       

      Performanță de măsurare superioară

       
      • Măsurători la nivel de 0,1 nm pe suprafete foarte netede.
      • Permite masuratori cu aceeași rezoluție într-o gamă largă de apropieri.
      • Permite măsurarea suprafețelor netede și aspre, fără a schimba modul de măsurare sau obiectivul.
      • Captureaza atat imagine cu focalizare completa cat si imagine 3D.

      O gamă largă de metode de observare

      • Sistemul poate fi folosit ca un microscop optic  luminos , pentru polarizare , observatie mediu florescent etc.

       

      Măsurare la nivel sub-nano într-o gamă largă de mărire

      Tip: sistem BW-D501

      Sa 0.483nm 
      0.645nm Sq 
      Sz 7.460nm

      Sa 0.302nm 
      0.401nm Sq 
      Sz 11.187nm

      Sa 0.144nm 
      0.545nm Sq 
      Sz 121.859nm

      Sa 0.391nm 
      0.495nm Sq 
      Sz 3.934nm

      Sa 0.306nm 
      0.398nm Sq 
      Sz 3.264nm

      Măsurători precise pentru suprafețe aspre.

      Tip: sistem BW-A501 
      Subiect: Membrane de diamant sintetizate prin depunere chimică din vapori cu plasmă 
      Photo credit:  Hiromichi Toyota, Universitatea Ehime 

      Înălțime de calibrare cu standardul VLSI NIST

      Sistem BW-D501

       

      Specificatii: White Light System Microscop interferometric

       

      Rezolutie

      BW-S501

      BW-S502

      BW-S503

      BW-S505

      BW-S506

      BW-S507

      Sistem optic de masurare

      Variatia focalizarii cu lumina interferometrica (FVWLI)

      Rezoluție înălțime

      13 (0,001 nm)

      Masurare inaltime/pas

      σ: 8nm / 8 pm

      Numărul de pixeli

      2046 x 2046, 1022 x 1022

      Timp de măsurare înălțime

      38 s, 16 s / 10 pm scanare

      Gama de măsurare a  înălțimii

      <90 pm

      <20 mm

      <90 pm

      <20 mm

      Dimensiunea câmpului de măsurare

      <4448 x 4448 um *

      Acționare piezo

      Lentilă obiectiv condusa

      Nosepiece driven

      Axa Z

      Manual

      Electric

      Manual

      Electric

      Axa XY

      Manual

      Electric

      Manual

      Electric

      Software-ul

      Bridgelements® software modules

       

       

      High Speed model

      BW-D501

      BW-D502

      BW-D503

      BW-D505

      BW-D506

      BW-D507

      Sistem optic de masurare

      Variatia focalizarii cu lumina interferometrica (FVWLI)

      Rezoluție înălțime

      13 (0,001 nm)

      Masurare inaltime/pas

      σ: 8nm / 8 pm

      Numărul de pixeli

      510×510

      Timp de măsurare înălțime

      4 s / 10 pm scanare

      Gama de măsurare înălțime

      <90 pm

      <20 mm

      <90 pm

      <20 mm

      Dimensiunea câmpului de măsurare

      <2015 x 2015 pm *

      Acționare piezo

      Lentilă obiectiv condusa

      Nosepiece driven

      Axa Z

      Manual

      Electric

      Manual

      Electric

      Axa XY

      Manual

      Electric

      Manual

      Electric

      Software-ul

      Bridgelements module software ®

      * Gama poate fi extinsă prin schimbarea obiectivului .

      TRANSPORT GRATUIT

      pentru toate produsele pana la sediul dvs.

      CONSULTANTA

      solutia optima pentru aplicatia dvs.

      MONTAJ

      punerea in functie si efectuarea testelor

      INSTRUCTAJ

      instruirea personalului pentru operare optima

      SERVICE TEHNIC

      in perioada garantiei si post-garantie

      Descriere

      Observarea cu precizie ridicata a nano-suprafetelor si masurare fara contact

      • Tehnologia de măsurare cu interferență optică de tip scanare de la Nikon atinge rezolutie de 1 picometru (pm). Nikon oferă o mare varietate de microscoape optice ca sisteme de măsurare potrivite pentru o gamă largă de aplicații de măsurare.

       

      Performanță de măsurare superioară

       
      • Măsurători la nivel de 0,1 nm pe suprafete foarte netede.
      • Permite masuratori cu aceeași rezoluție într-o gamă largă de apropieri.
      • Permite măsurarea suprafețelor netede și aspre, fără a schimba modul de măsurare sau obiectivul.
      • Captureaza atat imagine cu focalizare completa cat si imagine 3D.

      O gamă largă de metode de observare

      • Sistemul poate fi folosit ca un microscop optic  luminos , pentru polarizare , observatie mediu florescent etc.

       

      Măsurare la nivel sub-nano într-o gamă largă de mărire

      Tip: sistem BW-D501

      Sa 0.483nm 
      0.645nm Sq 
      Sz 7.460nm

      Sa 0.302nm 
      0.401nm Sq 
      Sz 11.187nm

      Sa 0.144nm 
      0.545nm Sq 
      Sz 121.859nm

      Sa 0.391nm 
      0.495nm Sq 
      Sz 3.934nm

      Sa 0.306nm 
      0.398nm Sq 
      Sz 3.264nm

      Măsurători precise pentru suprafețe aspre.

      Tip: sistem BW-A501 
      Subiect: Membrane de diamant sintetizate prin depunere chimică din vapori cu plasmă 
      Photo credit:  Hiromichi Toyota, Universitatea Ehime 

      Înălțime de calibrare cu standardul VLSI NIST

      Sistem BW-D501

       

      Specificatii: White Light System Microscop interferometric

       

      Rezolutie

      BW-S501

      BW-S502

      BW-S503

      BW-S505

      BW-S506

      BW-S507

      Sistem optic de masurare

      Variatia focalizarii cu lumina interferometrica (FVWLI)

      Rezoluție înălțime

      13 (0,001 nm)

      Masurare inaltime/pas

      σ: 8nm / 8 pm

      Numărul de pixeli

      2046 x 2046, 1022 x 1022

      Timp de măsurare înălțime

      38 s, 16 s / 10 pm scanare

      Gama de măsurare a  înălțimii

      <90 pm

      <20 mm

      <90 pm

      <20 mm

      Dimensiunea câmpului de măsurare

      <4448 x 4448 um *

      Acționare piezo

      Lentilă obiectiv condusa

      Nosepiece driven

      Axa Z

      Manual

      Electric

      Manual

      Electric

      Axa XY

      Manual

      Electric

      Manual

      Electric

      Software-ul

      Bridgelements® software modules

       

       

      High Speed model

      BW-D501

      BW-D502

      BW-D503

      BW-D505

      BW-D506

      BW-D507

      Sistem optic de masurare

      Variatia focalizarii cu lumina interferometrica (FVWLI)

      Rezoluție înălțime

      13 (0,001 nm)

      Masurare inaltime/pas

      σ: 8nm / 8 pm

      Numărul de pixeli

      510×510

      Timp de măsurare înălțime

      4 s / 10 pm scanare

      Gama de măsurare înălțime

      <90 pm

      <20 mm

      <90 pm

      <20 mm

      Dimensiunea câmpului de măsurare

      <2015 x 2015 pm *

      Acționare piezo

      Lentilă obiectiv condusa

      Nosepiece driven

      Axa Z

      Manual

      Electric

      Manual

      Electric

      Axa XY

      Manual

      Electric

      Manual

      Electric

      Software-ul

      Bridgelements module software ®

      * Gama poate fi extinsă prin schimbarea obiectivului .

      Vezi mai mult Vedeți mai puțin

      Aveți mai multe întrebări?

      Poți solicita o ofertă

      Seria de microscoape Nikon BW

      Solicita oferta

      Finanțarea

      Soluții de finanțare pentru achiziționarea de echipamente noi, prin BCR Leasing sau Grenke.

      Vezi Metode de finanțare

      Consultați Catalogul de produse

      Puteți găsi toate produsele noastre pe care vă puteți baza întotdeauna!

      Deschideți catalogul