Sisteme de inspectie cu raze X configurabile - O gama larga de optiuni pentru CT de precizie

Sisteme de inspectie cu raze X configurabile

Sisteme de inspectie cu raze X configurabile – O gama larga de optiuni pentru CT de precizie

Sistemele furnizate de Nikon Metrology sunt echipate cu tehnologie de ultima generatie, manipulator ultra-precis, software intuitiv si modalitati avansate de scanare. Cu un volum de inspectie mare, sistemele suporta surse si detectoare multiple. Acestea pot fi configurate personalizat in functie de aplicatiile din industriile aerospace, automotive, productie, componente electronice, matrite, piese turnate din metal sau din material plastic si multe altele.

Scanarea cu raze X si CT de mare precizie  permite  aplicatiilor precum ingineria inversa, compararea cu modelul CAD, analiza detaliata a defectelor, cercetarea avansata a materialelor si structurilor biologice, arhivare digitala si multe altele.

Descrierea produselor

Gama variata de sisteme de inspectie cu raze X configurabile pot fi construite intr-o multitudine de configuratii.  Acestea se potrivesc celor mai exigente aplicatii din industrie de la probe mici cu densitate mica pana la piese dense de mari dimensiuni.

Beneficii & Caracteristici

Sursa de raze X cu energie ridicata

In centrul sistemelor de inspectie configurabile furnizate de Nikon Metrology, stau sursele de radiatii de la 180 kV pana la 450 kV. Aceste surse ce fac posibila obtinerea imaginilor de o calitate superioara. Sistemele de inspectie pot fi echipate cu singura sursa de raze X microfocus de 450kV din lume. Impreuna cu tehnologia target rotativ faciliteaza obtinerea radiografiilor intr-un timp mai scurt fara a fi afectata calitatea imaginilor. Sistemele configurabile Nikon ofera posibilitatea combinarii unei surse microfocus 450kV si a unei surse minifocus 450kV intr-o singura configuratie.

Versatilitate de neegalat

E1, M2, C1, C2 si C3 sunt sisteme configurabile, de la o singura sursa pana la 3 surse. Sistemele pot fi instalate intr-un cabinet deja existent sau pot fi furnizate cu un cabinet nou, modular cu un design ergonomic si cu specificatii intuitive. Practic sistemul poate fi configurat pentru orice aplicatie.

Panourile detectoare si optiunile Panel Scan si Helical X-Tend cresc versatilitatea sistemelor configurabile. O personalizare suplimentara este posibila pentru piesele grele si de mari dimensiuni.

Sistemele din Seria E si din Seria M permit miscarea pe verticala a manipulatorului iar sistemele din Seria C permit miscarea pe vertical a sursei si a detectorului. Aceste optiuni impreuna cu baza de granit de calitate metrological fac sistemele configurabile Nikon potrivite pentru orice aplicatie.

Detector avansat si moduri de scanare

Sistemele pot fi configurate cu o serie de detectoare de inalta rezolutie de 16 biti pana la 4000×4000 pixeli. Distanta de la sursa la detector poate varia de la caz la caz.

Modurile avansate de scanare permit obtinerea calitatii chiar in cazul pieselor inalte, late sau de densitate mare. Sistemele echipate cu tehnologia Fast Panel-Scan permit extinderea campului vizual in cazul pieselor late in timp ce optiunea X. Tend permite verificarea piselor pe inaltime intr-o singura scanare continuua.

Optiunea dual-detector poate combina tehnologia panou plat si CLDA in vederea obtinerii rezultatelor de mare precizie chiar in cazul pieselor dense si de mari dimensiuni.

Software pentru fiecare aplicatie

O interfata grafica intuitiva permite utilizatorului un flux rapid de lucru. Programele de lucru permit o configurare avansata utilizatorilor experimentati. Deasemenea, pun la dispozitie o serie de unelte utilizatorilor incepatori pentru a permite scanarea rapida a pieselor. Modurilor avansate de scanare li se adauga si motoarele avansate de reconstructie pentru generarea rapida si precisa a datelor.

Controlul prin comunicare IPC permite fluxuri de lucru si analize automatizate cu generare de date compatibile cu programele de analiza din industrie. Solutiile software personalizate si uneltele de analiza sunt disponibile pentru analiza specifice fiecarei industrii.