Microscop SEM Nikon JCM 6000 Plus

Microscop SEM Nikon JCM 6000 Plus

JEOL NeoScope JCM-6000Plus este un microscop de scanare cu electroni (SEM) capabil să raspundă nevoilor diversificate ale utilizatorilor. Pe lângă SEM-urile convenționale care ocupă un spațiu mult prea mare, microscopul JCM-6000Plus este de tip benchtop ce are dimensiunile de 330mm (W) x 490mm (D) x 430mm (H). Datorită acestor dimensiuni reduse este considerat unul dintre cele mai compacte SEM-uri disponibile pe piață.

Microscopul dispune de un controler cu multi-touch screen, ușor de folosit și intuitiv, ce realizează funcții automate precum: auto focus, auto stigmator, auto contrast/ brightness. Controlerul oferă posibilitatea de a afișa două imagini (una live și una de referință) având ca scop compararea rezultatelor.

Seria de microscoape SEM continuă să dispună de funcționalități cum ar fi: un nivel ridicat al vidului și detectorul de electroni secundari oferind posibilitatea de a observa, în mod clar, structuri fine de pe suprafața probei la apropiere mare.

Caracteristici tehnice

• Zoom 10x – 60.000x
• Tip analiză – calitativă și cantitativă
• Tip observare – vacuum mare / vacuum mic
• Voltaj de accelerare – electroni secundari: 5KV, 10KV, 15KV
• Electroni retroîmprăștiați: 10KV, 15KV
• Cursa XY – 35 x 35 (Manual/ Motorizat)
• Înclinare masă – de la -15 ͦ până la +45 ͦ rotație 360 ͦ motorizată
• Dimensiuni maxime piesă – 70mm diametru x 50mm înălțime
• EDS – Da
• Filament Precentrat (schimbare de către operator).

Echipamentul JEOL JCM-6000Plus poate fi utilizat într-o gamă largă de aplicații după cum urmează:

• industria medicală
• industria automotive
• industria aerospațială
• industria metalurgică
• industria electronică.